Сильноточные импульсные дефектоскопы серии Isopuls C разработаны для контроля магнитотвердых материалов методом остаточной намагниченности.
Длительность одиночного импульса составляет несколько миллисекунд и достигается использованием конденсаторов большой мощности. Сильноточные импульсные дефектоскопы серии Isopuls C разработаны для контроля магнитотвердых материалов методом остаточной намагниченности.
Длительность одиночного импульса составляет несколько миллисекунд и достигается использованием конденсаторов большой мощности.