Настольный рентгеновский микрозонд ЭКРОС XRF-9720 STINGRAY позволяет проводить элементный анализ микро-и макрообъектов, исследовать однородность состава с помощью картирования элементов и рентгенографических изображений объектов.
Особенности ЭКРОС XRF-9720:
- Элементное картирование
Программное обеспечение позволяет строить карты распределения элементов в диапазоне от Na до U и исследовать неоднородность объектов. - Микроанализ
Благодаря минимальному размеру рентгеновского пятна 20 мкм, возможно проведение элементного картирования с высоким разрешением, а также качественного и количественного рентгенофлуоресцентного анализа. - Точность позиционирования
Высокопрецизионный предметный стол, совмещённый с оптическим микроскопом/видеокамерой, даёт возможность точно исследовать заданную оператором область. - Рентгенография
С помощью специального детектора, расположенного под объектом исследования, выводятся рентгенографические изображения. - Видеозахват области сканирования
Выбор области измерения проводят по изображению с видеокамеры или оптического микроскопа с последующей возможностью его наложения на результаты элементного картирования. - Нестандартные размеры объектов
Возможно проведение измерений крупногабаритных образцов неправильной формы. - Отсутствие пробоподготовки
Нет необходимости в проведении дополнительной подготовки анализируемых образцов.
Области применения:
- Исследование покрытий.
- Электроника, электронные платы.
- Новые материалы, полупроводники.
- Искусство.
- Археология и реставрация.
- Технологический контроль.
- Криминалистика.
- Экспертиза.
- Материаловедение.