Система малоуглового рентгеновского рассеяния NANOSTAR с увеличенным диапазоном изменения расстояний от образца до детектора позволяет определять характеристики наноструктур методами SAXS и WAXS (мало- и широкоугловое рассеяние рентгеновских лучей), а наноструктурированных поверхностей и пленок — методом GI-SAXS (малоугловое рассеяние рентгеновских лучей при скользящем падении). Острофокусные источники рентгеновского излучения с оптикой Монтеля создают пучок высокой интенсивности с низким паразитным рассеянием. Камера для образцов очень большого размера оснащена различными специализированными держателями образцов и дополнительными модулями. Система использует современные высокоэффективные 2D-детекторы с низким уровнем фона для исследования изотропных и анизотропных образцов.
Основные преимущества NANOSTAR:
- горизонтальное расположение оптической схемы;
- высокоэффективные источники рентгеновского излучения: IμS, TXS, METALJET;
- оптический модуль MONTEL со сменными коллиматорами;
- большая камера для образцов с множеством различных держателей;
- позиционно-чувствительный 2D-детектор VÅNTEC-2000;
- большой диапазон изменения расстояния от детектора до образца;
- возможность автоматизированной работы для рутинных измерений;
- гарантированная заводская юстировка;
- автоматическое распознавание компонентов системы;
- широкий спектр применения: изучение полимеров, биологических материалов, волокон, металлов, нанопорошков, сложных жидкостей и наноструктур.