Дефектоскоп ISONIC 2010 является уникальным сочетанием технологии фазированных решеток возможностей работы со стандартными УЗ преобразователями и технологией TOFD.
Обеспечивает запись и отображение 100% исходных данных. Сочетание подобной функциональности с компактностью, легкостью и возможностью работы от батарей делает этот прибор незаменимым для всех видов ультразвукового контроля.
Дефектоскоп поддерживает работу с фазированными решетками в режиме 32:32. В этом режиме прибор работает с независимо регулируемыми излучающей и приемной апертурами, в каждой из них может быть представлено до 32 активных элементов. Группы элементов фазированной решетки, образующие излучающую и приемную апертуру, могут быть полностью или частично согласованы или полностью разделены, что обеспечивает большую гибкость в выборе угла падения, фокусного расстояния, типа излучаемой и принимаемой волны, включая прямое преломление и дифрагированный режим преобразованного сигнала.
Каждый канал оснащен собственным А/Ц преобразователем. Параллельный запуск, А/Ц преобразователь и цифровая синхронизация в реальном времени обеспечивает любую структуру и размер излучающей и приемной апертуры. Выполнение фокального закона за один цикл передачи/приема УЗ импульса позволяет получить максимальную скорость прозвучивания.
Дефектоскоп ISONIC 2010 оснащен независимым каналом для использования обычных УЗ датчиков и проведения TOFD, возможна запись как в раздельном, так и в совмещенном режимах работы генератора/приемника.
Особенности:
- 100% запись А-Скана в любой точке контролируемого объекта;
- прорисовка геометрии сварного соединения, в том числе V-образной разделки кромок, таврового сварного соединения, углового сварного соединения, а также кольцевых сварных соединений, позволяющая точно определить местоположение найденного дефекта;
- измерение геометрических размеров дефекта: глубины залегания, условной ширины и протяженности;
- документирование полученных результатов в табличном виде, с А-Сканом найденных дефектов, максимальной амплитуды и геометрических размеров дефектов.